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在SMT制程中有三種自動(dòng)測(cè)試設(shè)備在線測(cè)試儀、自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)設(shè)備和X射線檢測(cè)設(shè)備可供選擇。根據(jù)這些設(shè)備的特性，基于不同的產(chǎn)品、產(chǎn)量、品質(zhì)、成本和人員作綜合的考慮，才能做出正確的選擇。
在高品質(zhì)，高密度，小型化，高效率和大批量的要求下的電子產(chǎn)品生產(chǎn)中，依靠人眼的檢驗(yàn)方法越來越有局限性，大量的統(tǒng)計(jì)表明，僅靠人工，僅能檢出50-70%的制程問題。所以自動(dòng)測(cè)試設(shè)備就越來越受到人們的重視。可是當(dāng)那些昂貴的設(shè)備被采購進(jìn)來后，并沒有達(dá)到人們預(yù)期的效果，產(chǎn)品的品質(zhì)和效率并沒有得到大幅度的提升，甚至于這些昂貴的設(shè)備成了重要客戶來參觀的擺設(shè)。因此我們要考慮到多種自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備，我們要怎么選擇？
三種測(cè)試設(shè)備特性
在線測(cè)試儀是萬用表的延伸。萬用表一次只能測(cè)元器件的兩個(gè)管腳，效率太低，所以延伸出這種一次可以測(cè)幾百至幾千個(gè)管腳的設(shè)備；并且，在線測(cè)試儀主機(jī)的配用電腦還可以完成測(cè)試出問題的統(tǒng)計(jì)和歸類的功能。在線測(cè)試儀是電子制造廠常用的表面貼裝制程(SMT)生產(chǎn)的測(cè)試設(shè)備。它分為主機(jī)和測(cè)試治具兩大部分。主機(jī)除機(jī)械支撐和傳動(dòng)裝置，還配有PC和測(cè)試軟件。在線測(cè)試儀治具是用幾百個(gè)甚至幾千個(gè)金屬探針組成很多獨(dú)立的有電路邏輯判斷功能的測(cè)試單元它們同時(shí)接觸PCB電路板布線的測(cè)試點(diǎn)來進(jìn)行PCBA電路板組件的電路測(cè)試：它們需要PCBA上被測(cè)零件有測(cè)試點(diǎn)對(duì)應(yīng)，如無測(cè)試點(diǎn)，在線測(cè)試儀將無法測(cè)試。
自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)設(shè)備(AutomaticOpticalInspection)。自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)設(shè)備的基本功能實(shí)際上是放大鏡的延伸，它利用電子，光學(xué)和網(wǎng)絡(luò)技術(shù)使被觀察物能真實(shí)的在顯示器上還原，并具備數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析，存儲(chǔ)，傳送功能。自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)設(shè)備沒有電路的邏輯判斷功能。
自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)設(shè)備是基于光學(xué)原理的檢測(cè)設(shè)備。其原理是通過人工光源LED燈光代替自然光；用光學(xué)透鏡和CCD代替人眼：通過光學(xué)鏡頭照相的方式獲得元器件或焊點(diǎn)的圖像，然后經(jīng)過計(jì)算機(jī)的處理和分析，來比較、判斷焊點(diǎn)的缺陷和故障。處理和分析的方法多用圖形識(shí)別法即將自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)設(shè)備系統(tǒng)中預(yù)先存儲(chǔ)的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)字化圖像與實(shí)際檢測(cè)到的圖像進(jìn)行比較，從而獲得檢測(cè)結(jié)果。
X射線檢測(cè)設(shè)備(Automatic X-ray Inspection)自動(dòng)X射線檢測(cè)機(jī)
X射線在20世紀(jì)60年代X射線開始被應(yīng)用在工業(yè)中。X射線的應(yīng)用是利用其穿透物體表面的能力。它的穿透力除與其發(fā)射功率有關(guān)外，還與被測(cè)物質(zhì)密度有關(guān)，密度大的物質(zhì)，對(duì)X射線的吸收多，透過少；密度小者，吸收少透過多。利用差別吸收這種性質(zhì)可以把密度不同的材質(zhì)區(qū)別開來。X射線檢測(cè)設(shè)備運(yùn)用這個(gè)原理，透視電子組件和焊點(diǎn)內(nèi)部，操作者通過顯示器可以看到電子組件和焊點(diǎn)內(nèi)部的狀況。X射線檢測(cè)設(shè)備在業(yè)界常被簡稱為X-ray。
在X-ray檢測(cè)的過程中，扇形的X-ray射線穿過待檢樣品，然后通過圖像增強(qiáng)器形成一個(gè)放大的X光圖。該圖像的質(zhì)量主要由以下三點(diǎn)決定：分辨率、放大率及對(duì)比度。圖像分辨率(清晰度)主要由X射線源的大小決定；X-ray放射管的射線源只有幾個(gè)微米。在實(shí)際應(yīng)用中圖像的幾何放大率可達(dá)到1000至2500倍；對(duì)比度除與X-ray特性有關(guān)，只有吸收差別達(dá)到2%，才能在X光圖中清晰地呈現(xiàn)出來。
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